2015年1月15日 11:19
日立ハイテク、電子部品のめっき膜厚を迅速を測定する蛍光X線膜厚計を発表
この他、「FT150L」では最大600mm×600mmまでの大型プリント基板にも対応する。これらにより、「FT150」シリーズは高精度・迅速なめっき膜厚検査を実現し、検査工程の効率化とコスト削減に貢献するとしている。
今後、同社では「FT150シリーズ」をICパッケージ部品、小型チップ部品、微小コネクタ、プリント基板などのめっき膜厚や組成検査の需要に向けて国内外で販売を進めていくとコメントしている。
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