くらし情報『GE、非破壊検査および3次元欠陥解析用高性能CTを発表』

2014年10月24日 13:56

GE、非破壊検査および3次元欠陥解析用高性能CTを発表

GE、非破壊検査および3次元欠陥解析用高性能CTを発表
GE Oil & Gasの測定機器部門であるGE Measurement & ControlのGEセンシング&インスペクション・テクノロジーズは10月23日、非破壊検査および品質管理ラボ用途に特化した、産業用高性能CT「phoenix v | tome | x c」が、国内で初めてJMCに導入されたと発表した。

同製品は、非破壊的な方法によって、鋳造品や複合材料を正確な3次元位置計測と定量的な欠陥解析を行い、包含物(不純物)や空孔のサイズ、ボリュームおよび密度情報を正確に計測する。そして、品質向上および欠陥品低減のために生産工程を最適化する。なお、同装置でスキャン可能な対象製品は、タービンブレードなどの中小サイズのスチール鋳造品、ファンブレードなどの複合材部品で、さらにシリンダーヘッドなどの大型軽金属鋳造品の内部欠陥解析、ポロシティー解析、包含物(不純物)事前テストといった非破壊検査にも対応する。

その他の特徴としては、最大X線出力が320kvもしくは450kvで、大型部品のスキャンを可能としながらも生産現場でも3次元CTを可能にする堅牢かつコンパクトなデザインとなっている他、シンプルな操作性によって高精度の3次元計測・非破壊検査業務を必要最小限のトレーニングで実施できる。

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