アドバンテスト、多機能SoCを測定できる非メモリテスタ用モジュールを発表

アドバンテストは11月25日、非メモリテスタ「T2000」向け多目的(マルチパーパス)パラメトリック測定モジュール「PMU32E」を発表した。

同モジュールは、「PMU32」の後継モジュールであり、「T2000」の計測範囲をデジタル、アナログ、パワーマネジメントなどを融合した多機能SoCデバイスまで広げるものである。さらに、「PMU32」に対し完全上位互換であるため、ロードボードなどの既存資産との互換性を維持しながら、従来比2倍の分解能と精度を実現している。

また、「PMU32E」を用いることにより、「T2000」と「T2000」の機能拡張オプション「T2000 EPP(Enhanced Performance Package)」の性能を最大限に発揮することが可能となる。測定速度は、「PMU32」に比べて2倍以上速く、特にDCリニアリティ試験ではサンプリングレートとデータ転送速度の向上により劇的にスループットを向上させている。このため、大幅なテスト時間削減が可能となり、生産性の向上とコスト削減につなげることができる。

この他、既存の「PMU32」のテストプログラムがそのまま使用できることからオペレーション効率が良いことに加え、チャネルごとのAWGとデジタイザのメモリ容量は従来比2倍となり大幅に能力が拡張された。さらに、新規にISVMギャング機能をサポートしており、デバイスのオンダイレギュレータ(ODR)のロード試験が可能になった。これら「PMU32E」の機能により、「T2000」は新規デバイスの開発期間も劇的に短縮することができるとしている。

なお、「PMU32E」は2015年3月頃より出荷が開始される予定。