くらし情報『アドバンテスト、多機能SoCを測定できる非メモリテスタ用モジュールを発表』

2014年11月27日 09:37

アドバンテスト、多機能SoCを測定できる非メモリテスタ用モジュールを発表

アドバンテスト、多機能SoCを測定できる非メモリテスタ用モジュールを発表
アドバンテストは11月25日、非メモリテスタ「T2000」向け多目的(マルチパーパス)パラメトリック測定モジュール「PMU32E」を発表した。

同モジュールは、「PMU32」の後継モジュールであり、「T2000」の計測範囲をデジタル、アナログ、パワーマネジメントなどを融合した多機能SoCデバイスまで広げるものである。さらに、「PMU32」に対し完全上位互換であるため、ロードボードなどの既存資産との互換性を維持しながら、従来比2倍の分解能と精度を実現している。

また、「PMU32E」を用いることにより、「T2000」と「T2000」の機能拡張オプション「T2000 EPP(Enhanced Performance Package)」の性能を最大限に発揮することが可能となる。測定速度は、「PMU32」に比べて2倍以上速く、特にDCリニアリティ試験ではサンプリングレートとデータ転送速度の向上により劇的にスループットを向上させている。このため、大幅なテスト時間削減が可能となり、生産性の向上とコスト削減につなげることができる。

この他、既存の「PMU32」のテストプログラムがそのまま使用できることからオペレーション効率が良いことに加え、チャネルごとのAWGとデジタイザのメモリ容量は従来比2倍となり大幅に能力が拡張された。

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