横河ディジタル、解析/分析機能を充実させたJTAGデバッグツールを発表

横河ディジタルコンピュータは1月20日、開発効率および信頼性の向上といった要求に応えるために解析機能/測定機能を充実させたJTAGデバッグツール「adviceLUNA II」を発表した。

近年、組み込み製品のソフトウェア開発は、高機能化、多様化という市場ニーズに応えるため、システムは大規模化、複雑化の傾向にあり、その一方で開発期間の短縮、信頼性の確保が課題とされている。また、開発効率、および製品品質の向上を実現するために、割り込み処理や例外処理などシステムの動きを意識したデバッグやテストを効率良く行える環境が求められている。これら開発現場の要求に応えるため、システムの可視化、解析/分析機能の強化をコンセプトに同製品を開発したという。

具体的には、プログラムの実行状況をチャートで視覚的に確認することができるトレース解析機能や、プログラムの実行網羅率を測定するカバレッジ測定機能、キャッシュヒット率測定機能など、システムの動きを可視化して、より効率的にデバッグ/解析できる機能を実装している。また、高速・高精度トレースを実現するために、高速差動伝送インタフェースに対応した。さらに、同製品には、Linux/Androidをはじめとする多種OSのデバッグや、AMP型/SMP型マルチコアシステムのデバッグに対応した、最新版のGUIデバッガ「microVIEW-PLUS Ver.6」