アドバンテスト、RFデバイス試験向けに「T2000」の新モジュールを発表

アドバンテストは3月10日、モバイル機器や無線LANなどに搭載される次世代RFデバイスの試験向けにテストシステム「T2000」用モジュール「Wireless Test Solution 32-Advanced(WLS32-A)」および「Wireless Test Solution 16-Advanceed(WLS16-A)」を発表した。

「WLS32-A/16-A」は、新しい無線LAN規格であるIEEE 802.11acや、高速モバイル通信規格であるLTE-Advancedに最適なテストモジュールとなっている。両モジュールは、信号発生・変調解析ソフトウェアを用いて、IEEE 802.11acやLTE-Advancedに対応する80MHzの広範囲周波数変調が可能。業界に広く採用されている同社の「T2000」プラットフォームに対応し、ワイヤレス通信用デバイスの量産向けに、最小限の投資で高速かつコスト効率に優れたテストソリューションを提供する。「WLS32-A/16-A」はそれぞれ32/16のポート数を備えている。

なお、2014年4月ころより順次出荷を開始する予定。