アドバンテスト、ディスプレイドライバ向けテストシステム「T6391」を発表

さらに、アナログ機能のテストに対応した16チャンネルのAWG(arbitrary wave form:アナログテスト用の任意波形発生器)およびデジタル・キャプチャを備えており、タッチセンサ機能を搭載したディスプレイICのテストも可能なほか、ロジック回路のテストを効率化するSCPG(scan pattern generator)、メモリテスト用のパターンを発生するALPG(algorithmic pattern generator)、メモリセルのフェイル解析に用いるAFM(address fail memory)などの機能も揃えているという。

なお、同装置の出荷開始は2014年12月末を予定しているという。