アドバンテスト、TPMS用MEMSセンサ試験向けに「V93000」のテストセルを発表

さらに、豊富なセンサテストライブラリを備え、容易でスピーディなテストプログラム開発に寄与する。

「V93000 Smart Scale」は、デジタルとアナログのテスト機能を兼ね備え、高い同時測定性能と、フルパフォーマンスのウェハソートテストソリューションでテストコストを削減する。「V93000」で最もテストヘッドの小さい「A-Class」構成は、省スペースと低消費電力に優れ、テストコスト削減に貢献する。「Pin Scale 1600」はマルチサイト効率の高いパーピン試験を可能とし、高いスケーラビリティを提供する。DC～1.6Gbpsのデータレート、従来ピンカード比2倍もしくは4倍の集積度、ピンごとの非同期なクロック設定が可能なclock-domain-per-pinの他、protocol-engine-per-pin、PRBS-per-pin、SmartLoopなどの機能が搭載され、デバイスの実使用環境に近いシステムライクストレステストを提供する。