ゼロからはじめる「Cloud Testing Service」 (5) コンタクト試験を実際にやってみる

最後に「DC parametric measurement」タブ(Photo30)に移ります。ここが、実際に測定と判定を行う設定となります。

ここでは

Measure Pin : ALL_PINSを設定します。
Mode : ISVM(電流印加電圧測定)を選択します。
Positive Clamp[V] : 500mVを設定します。
Negative Clamp[V] : -1.8Vを設定します。
Filter : 160KHzを選択します。
Upper Limit[V] : チェックを入れ、-300m(-300mV)を入力します。
Lower Limit[V] : チェックを入れ、-1(-1V)を入力します。
Source Value[A] : -100μ(-100μA)を入力します。

これにより、「-100μAを印加した時の電圧降下を測定し、それが-300mV～-1Vの範囲内かどうか判別する。この際、500mV以上あるいは-1.8V以下に電圧降下が起こらない様にする。フィルタの周波数は160KHzに設定」というテストが実施されることになります(Photo31)。

以上で設定は完了なので、そのまま実施して見ましょう。