くらし情報『SEMICON Japan 2014 - すべての半導体デバイスにテストの提供を目指すアドバンテスト』

2014年12月3日 20:14

SEMICON Japan 2014 - すべての半導体デバイスにテストの提供を目指すアドバンテスト

SEMICON Japan 2014 - すべての半導体デバイスにテストの提供を目指すアドバンテスト
2014年12月3日から5日にかけて東京ビッグサイトにて「SEMICON Japan 2014」が開催されている。今年は従来のような半導体製造装置と材料メーカーによる展示に加え、特別展「World of IoT」など様々な新たな取り組みに挑んでいる同展示会。半導体テスタ大手のアドバンテストは、さまざまな種類の半導体デバイスに向けたテスタの紹介を行っているほか、先端技術を活用した新たなソリューションの紹介などを行っている。

テスタ関連として注目なのが、2014年12月中に受注活動を開始する予定とするエンジニアリングラボ用ハンドラ「M4871ES」。従来、半導体デバイスの開発において、試作チップの温度特性などを計測したいと思っても、小型のハンドラがなかったため、工場に持ち込んで、そこに設置されているハンドラを使って特性の評価を行う必要があるといった手間が発生していた。

同装置は、そうした課題を解決することを目的に開発されたデスクサイズの小型ハンドラで、これで測定した特性をそのまま量産ラインに用いられているハンドラに反映させることが可能となるという。なお、価格は未定とのことだが、数百万円程度になるとのことであった。

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