imecが広波長帯域ハイパースペクトラル・イメージセンサとカメラを公開

ベルギ―の独立系ナノテク研究機関imecは、スペクトラル波長領域を可視光から近赤外まで広げたリニアスキャン・ハイパースペクトラルCMOSイメージセンサ(図1)を開発し、2月中旬、米国カリフォルニア州サンフランシスコで開催された「SPIE Photonics West」での発表と実演を行った(図2)。1チップで分光可能な波長領域は470～900nmで、バンド数は140以上。

「1チップでVNIR(Visible to Near Infrared)センサを開発できたのは、シリコンウェハ上に超微細構造の可視光用と近赤外用の2種類のスペクトラル・フィルターを堆積出来たため」とimecでVNIRセンサ開発を担当しているAndy Lambrechts氏は説明する(図3)。

ハイパースペクトラル・イメージングは、物質ごとに吸収(または放射)する光の波長が異なるという性質を利用して、波長ごとにイメージ分光して物質を認識し特徴づける技術である。元々は標的識別などの軍事目的に開発された技術である。近年は航空機から地表を遠隔探査して農作物、森林、水路、鉱床などの状態を観察・分析するために用いられているが、一般には装置が大掛かりで撮影速度が遅い。