2014年11月13日 13:08
テクトロ、MIPI M-PHY v3.1仕様対応のテストソリューションを発表
テクトロニクス社は11月12日、MIPIアライアンスが最近発表したMIPI M-PHY v3.1仕様に対応した物理レイヤの送信端における特性評価・デバッグソリューションを発表した。
MIPI M-PHYシリアルインタフェース技術は次世代のモバイルデバイスに広く採用されており、広帯域、少ないピン数、優れた電源効率を実現している。最新のv3.1仕様ではより強固な低電力PHYを実現しており、オシロスコープによる測定とプロービングには、DUT(Device Under Test、被測定デバイス)へのコモンモード負荷の低減、さらには広帯域、低ノイズ、高感度といった信号忠実度に対する厳しい要件が求められている。また、ハイスピードモードで動作するMIPI M-PHYトランスミッタのテストには、MIPI M-PHY規格で規定されている信号よりも3倍高速の立ち上り時間、200mVFSの感度、1mVrmsまたは2mVrms未満の低ノイズ、および大きなリターンロスを持ったオシロスコープとプローブのシステムが必要になるという。
同ソリューションは、MIPI M-PHY High Speed Gear 1/2/3、PWMモード(G0~G7)