重要な短絡障害からの保護 - 過酷な車載環境におけるUSBインタフェース開発

●電子ヒューズICを使用した過電流保護ソリューション
○柔軟性のある保護

図1に示すように、2段階の保護ソリューションを想定できます。このソリューションは、バッテリへの短絡状況に耐えうるESD保護ダイオード、その後バッテリレベルのDC信号を保護回路の損傷から守るデュアルFETから構成されています。電子ヒューズICを使用して、Vbus接続を過電流状態から保護します。ディスクリート部品を使用したこの実装を使用して、USB Vbusと高速データラインを保護するために最適化されたデバイスを選択できます。

ESD保護デバイスは、IEC61000-4-2レベル4に適合する高いESD保護レベルで設計されており、AEC-Q101に準拠、 PPAP対応となっています。各デバイスの2つの内部ダイオードは、1つのD+/D-ペアを保護し、ティピカル値0.3pFのグランドへのI/O低キャパシタンスを持ちます。シグナル・インテグリティを保護するために、キャパシタンスが厳密に整合されます。低い動的抵抗により、低いクランプ電圧が可能となり、18Vのブレークダウン電圧により、デバイスは、ブレークダウンすることなく、9V から16Vまでの範囲のバッテリへの短絡状態に耐えることができます。