ゼロからはじめる「Cloud Testing Service」 (5) コンタクト試験を実際にやってみる

これを利用して、逆にpinに電流を印加した際の電圧変動を見よう、というのが今回のテストの要目です(Photo14)。今回はPhoto14で言えば右側に相当するテストを行ってみます。

具体的に言えば、

VDD(電源)ピンと測定対象以外のピンはすべて0Vを印加する。
測定対象ピンに-100μAを印加し、その際の電圧値を測定する。

という操作を行います。これを行った場合、内部が正常だった場合はPhoto14の右側の様に、保護ダイオードに-100μAが流れる分、電圧降下が発生するので、これを測定することで内部が正常かどうか確認できます。PIC12F1822の場合で言えば

-1.0V ≦ 測定値 ≦ -0.3Vであれば正常
測定値 < -0.3Vであれば内部がショート状態(異常)
測定値 < -1.0Vであれば内部がオープン状態(異常)

という判断ができるため、これを使ってすべての信号ピンが正常に内部と接続されているか判る、という訳です。ちなみにこの数字は、厳密にはダイオード方程式と呼ばれる式で計算できます。

このコンタクト試験、一般には後工程の一番最初に、パッケージングした製品が正しく接続されているか、のテストとして行われます。