高速なDDRメモリ搭載システムの設計/開発を強力にサポート - 不良解析作業の効率化を実現するDDRデバック・ツールキット

図4の左にはReadの第一ビットのみでアイパターンを描いているので、プリアンブルの動きが見てとれます。右側にはWriteのやはり第一ビットのみでアイパターンを描いています。逆に、第二ビット以降のビットだけでアイパターンを描くこともできます。

○まとめ

これまで見てきたように、DDRデバッグ・ツールキットでは、アイパターン、ジッタ、DDRパラメータを使った解析をReadとWriteを分離して解析することができるだけでなく、様々に条件を変えた結果を同時に表示、比較検証することができるので、不良解析作業を大幅に効率化することができます。

著者プロフィール

辻嘉樹
テレダイン・レクロイ・ジャパン
技術部
1990年の会社設立時から、オシロスコープを用いたアプリケーションに関する記事の執筆、セミナーの講師を続けている。

○パワエレ効率化を支援するモータ・ドライブ解析テクニカル・セミナー

テレダイン・レクロイ・ジャパンでは、モータ・ドライブ解析用オシロスコープ「MDA800シリーズ」の機能などを紹介するセミナーを3月6日に以下の概要にて開催します。
日時:2015年 3月 6日(金) 14:00～16:00(受付開始 13:30～)