高速なDDRメモリ搭載システムの設計/開発を強力にサポート - 不良解析作業の効率化を実現するDDRデバック・ツールキット

DDRデバック・ツールキットは、こうした現場の声に応えるために、評価、不良解析を目的としたパッケージとなっています。

○強力なアイパターン解析

アイパターンは高速シリアル・インタフェースの信号品質試験で用いられる最も一般的で強力なツールですがJEDECでは、DDR4になるまで仕様に記載されていませんでした。しかしながら、アイパターンは、DDR信号評価の事実上の標準ツールとなっていました。DDRデバッグ・ツールキットではアイパターンが描けるだけでなく、DDR2やDDR3の信号に対してもDDR4同様の考え方でマスクを作成し表示することで、信号マージンの確認ができます。ただし、メモリの信号は書き込み(Write)も読み取り(Read) も同一バス上を流れますが、それぞれ経由してくる線路長が異なるため信号品質が異なるので別々に分離して評価しなければなりません。データ信号DQのWrite信号とRead信号は、ストローブ信号DQSに対して位相が90度異なっています。図2では、DQ信号とDQS信号のペアを5組、10個のアイパターンを同時に表示解析している様子を示しています。左上はReadのDQ(緑)