高速なDDRメモリ搭載システムの設計/開発を強力にサポート - 不良解析作業の効率化を実現するDDRデバック・ツールキット

○はじめに

テレダイン・レクロイは、DDRメモリのコンプライアンス試験ソリューションに加えて、DDRデバック・ツールキット(DDR Debug Toolkits)を提供し、豊富なデバッグ機能によりDDRを用いたシステムの設計/開発を強力にサポートします。

パソコンのメインメモリとして知られるDDRメモリですが、DDR、DDR2、DDR3と進化し、現在最新の規格はDDR4となっています。また、パソコンだけでなく組み込み系の機器にも広く採用されています。DDRに関する規格はJEDEC(半導体技術協会)が制定していて、各計測器メーカーからこの規格に準拠したコンプライアンス試験ソリューションが提供されています。しかしながら、JEDECの規格は半導体そのものの仕様を規定しているだけで、途中の伝送線などについては考慮されていません。従って、基板の実装状態などにより通信エラーが起きる可能性が指摘されています。特に、データレートが高速化するにつれてこうした影響が大きくなります。従来のコンプライアンス試験ソリューションでは、適合/不適合の判定が行われるのみで、デバッグにつながる不良解析情報は得られませんでした。